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Academy of Mathematics and Systems Science, CAS
Colloquia & Seminars

Speaker:

Prof. Zhong Tan,Xiamen University

Inviter: 李竞 研究员
Title:
电阻抗断层成像技术(EIT)中的数学理论
Time & Venue:
2018.12.21 16:00 N613
Abstract:

从电阻抗断层成像技术的原理开始,建立了偏微分方程的数学模型。该模型的特点是区域边界上呈现热方程,经过Sobolev迹嵌入不等式的处理得到了具有临界Sobolev指数的热方程。通过经典凹方法和奇性分析方法,得到了不同初值所带来的解的blowup性质或长时间渐近性质,有一类特殊的初值使其解在时间点列趁于无限时在有限点上产生集中现象。

 

 

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